Se solicita la adquisición de un sistema de medición para microscopía de sonda de barrido (SPM) que incluya los módulos Conductive AFM (C-AFM) y Photo Current Mapping (PCM), destinados a la caracterización eléctrica y fotoeléctrica de materiales con alta resolución espacial.
Requisitos funcionales y técnicos principales:
• Conductive AFM (C-AFM):
o Capaz de medir la conductividad de la muestra con alta resolución lateral.
o Integración de tecnología avanzada para mediciones de corriente precisas y de bajo ruido. Nivel de ruido: ≤ 0,4 pA (rms, a 10⁹ V/A).
o Rango de ganancia: mínimo 7 pasos (10⁶ a 10¹² V/A).
o Rango máximo de corriente medible: -10 μA a 10 μA (a 10⁶ V/A).
o Inclusión de sondas conductivas y software de control y análisis compatible con sistemas actuales.
• Photo Current Mapping (PCM):
• Capacidad de medir respuesta fotoeléctrica con iluminación modulada en el tiempo.
• Incluye módulo de iluminación láser, software y muestra de prueba.
• Control ON/OFF del láser y del sesgo de la muestra.
• Resolución temporal mínima de adquisición: ≤ 20 μs.
• Láser de 635 nm (rojo) con potencia de 5 mW, modulable a 300 kHz.
• Rango de sesgo de muestra: ±10 V.
• Profundidad de adquisición de curvas de fotocorriente: mínimo 4096 puntos.
• Opción de otros láseres (405 nm a 785 nm, 1 mW a 5 mW).

Condiciones adicionales:
• El suministro debe incluir todos los accesorios y manuales necesarios para la instalación y operación.
• Compatibilidad con equipos y sondas ya instalados en el laboratorio.